全自动比表面积及孔径分析测试仪F-Sorb 3400-金埃谱
F-Sorb X400系列比表面积及孔径（孔隙度）分析测试（测定）仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品，可完全实现测试过程的自动化和智能化，显著提高测试效率.
KSV NIMA LB 膜分析仪
KSV NIMA LB膜分析系统是由计算机控制的高性能的LB镀膜系统，其应用广泛、操作灵活。 系统结构模块化，可扩展升级的硬件和软件；整个系统框架型结构，允许添加其它附属装置，例如：可以与布鲁斯特角显微镜BAM联用；高质量的硬质熔结槽体；可进行膜的荧光
HYA比表面积测定仪、比表面积测量仪
1．     测试方法：气体连续流动色谱法测试比表面积。2．     测试范围:0.01m2/g-无已知上限。3．     测试精度：重复性误差〈±2%4．     主机功能：快速测试单
W-20硬度计
W-20硬度计符合中国有色标准YS/T420和美国标准ASTM B647，是标准YS/T420推荐的两种仪器之一。测试迅速，简便，一卡即可，硬度值直接读出,W-20硬度计的量程为0-20HW，精度为0.5HWW-20硬度计又称韦氏硬度计，钳式硬度计，是一种轻便的，可以现场快速测试铝合金硬度的仪器。
LANGMUIR-BLODGETT膜沉积分析系统
  薄膜/沉积/测量（测定）（压力、面积、时间）/性能研究/薄膜制备/转移/张力测量/分析/吸附/解吸/人工膜/单分子/纳米、微米域制造/生物表面活性/有机发光二极管/单分子光谱/基于Windows操作系统LANGMUIR-BLODGETT膜沉积分析系统，LB膜沉积系统，LB膜分析仪
重量法吸附分析仪---IsoSORP
IsoSORP吸附分析仪的核心是一台能精确称量样品材料质量的磁悬浮天平。拥有Robotherm专利技术的磁悬浮天平，可以进行密闭样品仓内高精度的样品质量测量实验。样品质量实际上是从外部称量的，其悬挂力由内部高压样品仓，非接触式的传导给外部正常大气环境下的微电子天平。
比表面积测定仪F-Sorb 2400-金埃谱
F-Sorb X400系列比表面积及孔径（孔隙度）分析测试（测定）仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品，可完全实现测试过程的自动化和智能化，显著提高测试效率.
